Dlaczego pulpit próżniowy EDX9000B wykrywa lekkie elementy (sód, magnez, glin, krzem, fosfor) lepsza

Fluorescencja rentgenowska (“XRF”) to technika stosowana do analizy elementarnej różnych próbek, w tym minerały. XRF analyzers determine the chemical properties of a sample by shining an X-ray at a point on the sample and measuring the spectrum of characteristic X-ray 1 emitted by different elements in that sample. Głównym źródłem promieni rentgenowskich może być lampa rentgenowska lub materiał radioaktywny, taki jak radioizotop. Termin “Rentgen”, jak tu zastosowano, includes photons with energies between about lkeV and about 150keV, and would therefore encompass: charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie emitowane przez wzbudzony atom, gdy jest on niewzbudzony; Promieniowanie rentgenowskie hamowania, które są emitowane, gdy elektrony są rozpraszane przez atomy; Elastyczne i nieelastyczne rozpraszanie fotonów jest ogólnie określane jako promieniowanie rozpraszające Rayleigha i Comptona, odpowiednio.

Dlaczego pulpit próżniowy EDX9000B wykrywa lekkie elementy (sód, magnez, glin, krzem, fosfor) lepsza

Po wystawieniu na działanie wysokoenergetycznego pierwotnego promieniowania rentgenowskiego ze źródła promieni, each atomic element present in one kind of sample produces a unique set of characteristic fluorescent X-rays that are essentially the fingerprint of that particular element. X-ray fluorescence analyzers determine the chemical properties of a sample by illuminating a point on the sample with X1-rays and measuring the spectrum of characteristic X-rays emitted by the various elements in that sample. Głównym źródłem promieni rentgenowskich może być lampa rentgenowska lub materiał radioaktywny, taki jak izomer radioaktywny. Na poziomie atomowym, charakterystyczne fluorescencyjne promieniowanie rentgenowskie powstaje, gdy foton o wystarczającej energii uderza w atom w tej próbce, wyrzucenie elektronu z jednej z wewnętrznych warstw orbitalnych atomu. Atom wówczas niemal natychmiast odzyskuje stabilność, wypełniając wolne miejsca w wewnętrznej warstwie orbitalnej elektronami z jednego z atomów o wyższej energii (zewnętrzny) warstwy orbitalne tego atomu. Nadmiar energii może zostać uwolniony w postaci fluorescencyjnego promieniowania rentgenowskiego, w postaci energii charakteryzującej różnicę między dwoma stanami kwantowymi atomu. Poprzez indukcję i pomiar szerokiego zakresu różnych charakterystycznych fluorescencyjnych promieni rentgenowskich emitowanych przez różne pierwiastki w próbce, analizator XRF jest w stanie określić pierwiastek obecny w próbce i obliczyć jego względne stężenie na podstawie liczby fluorescencyjnych promieni rentgenowskich 1 zachodzące przy określonej energii. Jednakże, z wyjątkiem szczególnych przypadków, przenośne analizatory XRF zazwyczaj nie są w stanie bezpośrednio mierzyć niskich stężeń pierwiastków lekkich (te o niskiej liczbie atomowej, Z zazwyczaj poniżej 20) ponieważ fluorescencyjne promieniowanie rentgenowskie o energiach poniżej ok 2.5 tysiąc elektronowoltów (keV) są pochłaniane na krótkich drogach powietrza. Dlatego, Analiza XRF pierwiastków lekkich wymaga przedmuchu azotem lub wykrycia próżni w środowisku, co może być niewygodne w przypadku instrumentów przenośnych lub podręcznych. Stołowy spektrometr XRF EDX9000A jest wyposażony w system próżniowy, w połączeniu ze specjalnie zaprojektowaną ścieżką optyczną, który idealnie nadaje się do wykrywania lekkich pierwiastków. Jest to szczególnie ważne w przypadku wykrywania minerałów, takie jak boksyt lub niektóre próbki o wysokiej zawartości krzemu i aluminium.