Ketebalan lapisan tergalvani dan lapisan pempasifan dalam kepingan tergalvani diukur oleh spektrometer pendarfluor XRF EDX8000B

Tolok ketebalan spektroskopi pendarfluor sinar-X mempunyai kelebihan tepat, cepat, pengukuran tidak merosakkan dan serentak ketebalan lapisan logam berbilang lapisan.

Dengan mengukur kekuatan garis spektrum XRF zink dan silikon dalam salutan, kami menukar ketebalan lapisan tergalvani dan lapisan pempasifan, dan gunakan kaedah lengkung piawai FP tiada perisian analisis sampel standard untuk mewujudkan lengkung analisis ketebalan penyaduran untuk pengukuran. Kaedahnya mudah sahaja, masa pengukuran adalah pendek dan ketepatannya tinggi. Analisis perbandingan membuktikan bahawa kaedah ini boleh mengukur ketebalan dan komposisi lapisan tergalvani dan lapisan pempasifan dengan tepat dalam kepingan tergalvani.

Ketebalan lapisan tergalvani dan lapisan pempasifan dalam kepingan tergalvani diukur oleh spektrometer pendarfluor XRF EDX8000B